X ışını floresansı, yüksek enerjili X ışınları ya da gama ışınları bombardımanına uğratılarak uyarılan bir malzemeden karakteristik "ikincil" (ya da floresansal) X ışınlarının yayılmasıdır. Bu olay element analizi ile kimyasal analizde, özellikle de metal, cam, seramik ve inşaat malzemelerinin incelenmesi ile jeokimya, adli tıp, arkeoloji ve sanat eserlerinin^[1] incelenmesinde kullanılmaktadır.

• Beckhoff, B.; Kanngießer, B.; Langhoff, N.; Wedell, R.; Wolff, H. (2006). Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis (İngilizce). Springer. ISBN 3-540-28603-9. 
• Bertin, E. P. (1975). Principles and Practice of X-ray Spectrometric Analysis (İngilizce). Kluwer Academic / Plenum Publishers. ISBN 0-306-30809-6. 
• Buhrke, V. E.; Jenkins, R.; Smith, D. K. (1998). A Practical Guide for the Preparation of Specimens for XRF and XRD Analysis (İngilizce). Wiley. ISBN 0-471-19458-1. 
• Jenkins, R. X-ray Fluorescence Spectrometry (İngilizce). Wiley. ISBN 0-471-29942-1. 
• Jenkins, R.; De Vries, J. L. (1973). Practical X-ray Spectrometry (İngilizce). Springer-Verlag. ISBN 0-387-91029-8. 
• R. E., Van Grieken; A. A., Markowicz (2002). Handbook of X-Ray Spectrometry (İngilizce) (2. bas.). New York: Marcel Dekker. ISBN 0-8247-0600-5. 9 Ağustos 2018 tarihinde kaynağından arşivlendi. Erişim tarihi: 19 Mart 2019.