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Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology (セルフモニタリング・アナリシス・アンド・リポーティング・テクノロジー、略称: S.M.A.R.T.; スマート) は、ハードディスクドライブと、ソリッドステートドライブの障害の早期発見・故障の予測を目的としてディスクドライブに搭載されている機能である。この機能は、各種の検査項目をリアルタイムに自己診断し、その状態を数値化する。ユーザーはその数値を各種のツール（後述）を用いることで知ることが出来る。

世界でもっとも多くのHDDを利用している企業の一つであるGoogleは2001年以降同社で利用してきた10万台以上のHDDの故障率を統計解析した結果を発表したが、それによると、温度や利用率がHDDの寿命と大きな相関がないことを示した一方、S.M.A.R.T値のいくつかのパラメタ(Raw Read Error Rate（読み込みエラー率）、Reallocation Counts（代替処理済みの不良セクタ数）、Offline Reallocation（回復不可能なセクタ数）、Probational Counts（代替処理待ちセクタ数）など)に有意な相関があることを示した。しかし、S.M.A.R.T値によるHDD寿命予測は事実上困難であり、半数のHDDが何の兆候も見せず突然死することも明らかにした^[1]。従って、あくまでもS.M.A.R.Tは参考に留まることに注意しなければいけない。

検査項目 (属性)

各検査項目（属性）には、「現在の値」(英: value)、「最悪（ワースト）値」(英: worst)、「閾値」(英: threshold)、そして「生の値」(英: data / raw value) の4つの項目が設定されている。これらの値がどのような方法によって算出されているかは各ベンダーによって異なるため、一概にどの値がどうなっていれば良いとは言い切れないが、一般的に「生の値」が実際のエラー等の回数や時間や温度を示しており、「生の値」を正規化したものが「現在の値」、今までの「現在の値」のうち最も悪かった時の値が「最悪値」である。（「生の値」が明らかにおかしい値の場合はベンダー独自の内部形式であると考えられる）

「現在の値」は大きいほどよく悪くなると減少する。「現在の値」の最も良い時の値は100であることが多いがこれも製造者によって様々である。「閾値」はベンダーが定めた限界値で「現在の値」または「最悪値」が「閾値」を下回ることがあれば、データのバックアップやハードディスクの交換など必要な処置を施すべきであると考えられる。また Temperature (C2_(16進)) や Reallocated Sectors Count (5_(16進)) など「生の値」が重要な項目も存在しており、「閾値」を下回らなくとも注意が必要な場合がある。

以下はS.M.A.R.T.によって報告される主な検査項目の一覧である。ATA仕様では属性のIDが何を示すかは規定していないためこの表は基本的にすべてベンダー独自の意味を解釈しているにすぎないことに注意すべきである。特に重要な項目については「^(重要)」という記号をつけた。ただし、HDDベンダーによって調査可能な検査項目は若干異なるため、必ずしも全ての項目を調査できるわけではない。また、HDDベンダーが独自の検査項目を設定していたり、IDが異なっていたり、独自の名称を設定している場合もあるが、それらについてはここでは網羅していない。

S.M.A.R.T.検査項目一覧
ID(10進)	ID(16進)	項目名	詳細な説明
1	1	Raw Read Error Rate^(重要)	この項目はハードディスクからデータを読み込む時に発生したエラーの割合を表す。現在値が閾値より低い場合、ハードディスク内の磁気ディスクまたは磁気ヘッドに異常がある。
2	2	Throughput Performance	ハードディスクの全体的な（スループット）処理能力。現在値が閾値以下の場合、高い確率でハードディスクに異常がある。
3	3	Spin-Up Time	ハードディスクが通電回転を開始してから規定の回転数に達するまでにかかった平均時間。
4	4	Start/Stop Count	ハードディスクのスピンドルモーターが回転/停止した回数。
5	5	Reallocated Sectors Count^(重要)	代替処置（データを特別に予約した予備エリアに移動する）を施された不良セクタの数。
6	6	Read Channel Margin
7	7	Seek Error Rate	磁気ヘッドが目的のデータの在るトラックへ移動しようとして失敗（シークエラー）した割合。ハードディスクの熱、サーボ機構の損傷などによって発生する。数値が低い場合、ハードディスクの表面やハードディスクの機械的なシステムに問題がある可能性がある。
8	8	Seek Time Performance	磁気ヘッドがシーク作業に要した平均時間。
9	9	Power-On Hours	工場出荷状態からのハードディスクの通電時間の合計。閾値に対するこの値の減少はMTBF（平均故障間隔）の減少を表す。
10	A	Spin Retry Count^(重要)	ディスクを規定の速度までスピンアップしようと再試行を試みた回数。
11	B	Recalibration Retries または Calibration Retry Count	ハードディスクのキャリブレーション動作（熱によるオフトラック現象を自動的に補正する機能）を再試行（すでに一度キャリブレーションに失敗している状態で）しようとした回数。
12	C	Device Power Cycle Count	ハードディスクの電源をON/OFFした回数。
13	D	Soft Read Error Rate^(重要)	オフトラックの数。数値が0でなければバックアップを取る。
22	16	Current Helium Level
170	AA	Available Reserved Space
171	AB	SSD Program Fail Count
172	AC	SSD Erase Fail Count
173	AD	SSD Wear Leveling Count
174	AE	Unexpected power loss count
175	AF	Power Loss Protection Failure
176	B0	Erase Fail Count
177	B1	Wear Range Delta
179	B3	Used Reserved Block Count Total
180	B4	Unused Reserved Block Count Total
181	B5	Program Fail Count Total または Non-4K Aligned Access Count
182	B6	Erase Fail Count
183	B7	SATA Downshift Error Count または Runtime Bad Block
184	B8	End-to-End error / IOEDC^(重要)
185	B9	Head Stability
186	BA	Induced Op-Vibration Detection
187	BB	Reported Uncorrectable Errors^(重要)
188	BC	Command Timeout^(重要)
189	BD	High Fly Writes
190	BE	Temperature Difference または Airflow Temperature
191	BF	G-sense Error Rate	衝撃によって引き起こされるプログラムエラーの頻度
192	C0	Power-off Retract Count または Emergency Retract Cycle Count (Fujitsu) または Unsafe Shutdown Count	ハードディスクの電源が切れ、磁気ヘッドが磁気ディスク表面から退避場所に退避した回数の合計。
193	C1	Load Cycle Count または Load/Unload Cycle Count (Fujitsu)	ロード/アンロード機構によって磁気ヘッドが磁気ディスク表面から退避場所に退避し、その後再び磁気ディスク表面に戻った回数の合計。一般的な2.5型HDDのメーカー保証値は、2005年以降に登場したモデルでは大抵60万回程度。2004年以前のモデルでは30万回程度。
194	C2	Temperature または Temperature Celsius	ハードディスクの現在の温度。一般的に動作が保障されている最高温度は55℃である。
195	C3	Hardware ECC recovered	ECC（Error Correction Code、誤り訂正符号）によって検知されたエラーの回数
196	C4	Reallocation Event Count^(重要)	セクタの代替処理が発生した回数。仮に処理に失敗しても回数に加算される。
197	C5	Current Pending Sector Count^(重要)	現在異常があり、代替処理を待つセクタの総数。もし後で読み込みに成功したセクタがあれば、この値は減少する。
198	C6	Off-Line Scan Uncorrectable Sector Count^(重要)	オフラインスキャン時に発見された、回復不可能なセクタの総数。この値が増加する場合は、磁気ディスクの表面に明確な問題がある。
199	C7	UltraDMA CRC Error Count	UltraDMAモードでのデータ転送中に発生したCRCエラーの数。
200	C8	Write Error Rate (Multi Zone Error Rate)	データの書き込み中に発見されたエラーの総数。
201	C9	Soft Read Error Rate または TA Counter Detected	プログラムが磁気ディスク表面からデータを読み込む際に発生したエラーの割合。
202	CA	Data Address Mark Error または TA Counter Increased	DAM（データアドレスマーク）に関するエラーの頻度を表す。
203	C8	Run Out Cancel	ECC（誤り訂正符号）エラーの頻度を表す。
204	CC	Soft ECC Correction	ソフトウェアECCによって訂正されたエラーの総数。
205	CD	Thermal Asperity Rate	サーマル・アスペリティ現象（磁気ヘッドが磁気媒体の突起に衝突して熱を生じ、データ検出を誤る可能性のある現象）によるエラーの総数。
206	CE	Flying Height	磁気ヘッドの浮上高。
207	CF	Spin High Current	ドライブのスピンアップに使用した高電流量。
208	D0	Spin Buzz	バズルーチン（ヘッドがディスクに接触する現象）を避けるために、ヘッドをディスクに対して垂直方向に跳ね上げる処理（これが連続して発生するとブザーのような音が鳴る）を使用した数。
209	D1	Offline Seek Performance	オフラインスキャン時に測定された、シーク機能の性能の値を表す。
210	D2	Vibration During Write	データの書き込み中に加わった大きな振動を表す。
211	D3	Vibration During Read	データの読み込み中に加わった大きな振動を表す。
212	D4	Shock During Write	データの書き込み中に加わった大きな衝撃を表す。
220	DC	Disk Shift^(重要)	ディスク（プラッタ）が衝撃などにより当初の固定位置よりズレた距離。
221	DD	G-Sense Error Rate	ハードディスクに加えられた衝撃によって発生したエラーの割合。衝撃はハードディスクに内蔵された衝撃感知センサーによって感知されている。
222	DE	Loaded Hours	一般的な作業時間中に引き起こされた磁気ヘッドアクチュエータの負荷の値を表す。
223	DF	Load/Unload Retry Count	ロード/アンロード機構によるロードまたはアンロード時に失敗して再試行した回数。
224	E0	Load Friction	機械的なパーツの摩擦による磁気ヘッドアクチュエータの負荷の値を表す。
225	E1	Load/Unload Cycle Count	機械的なパーツの摩擦による磁気ヘッドアクチュエータの負荷の値を表す。
226	E2	Load-in Time	磁気ヘッドアクチュエータがデータの読み込みによる負荷を受けていた時間の総合計。
227	E3	Torque Amplification Count	ディスク回転時のトルク増幅力の値を示す。
228	E4	Power-Off Retract Count	電源を抜くなどしてハードディスクが強制的に停止し、磁気ヘッドが緊急退避した回数。ハードディスクに大きな負担を与える。一般的な2.5型HDDのメーカー保証値は2万回程度。
230	E6	GMR Head Amplitude (HDD) または Drive Life Protection Status (SSD)	GMR磁気ヘッドの動作中における震えの振幅。
231	E7	Life Left (SSD) または Temperature
232	E8	Endurance Remaining または Available Reserved Space
233	E9	Media Wearout Indicator (SSD) または Power-On Hours
234	EA	Average erase count AND Maximum Erase Count
235	EB	Good Block Count AND System(Free) Block Count
240	F0	Head Flying Hours または Transfer Error Rate (Fujitsu)	磁気ヘッドが位置決めをしている時間。
241	F1	Total LBAs Written
242	F2	Total LBAs Read
243	F3	Total LBAs Written Expanded
244	F4	Total LBAs Read Expanded
249	F9	NAND Writes (1GiB)
250	FA	Read Error Retry Rate	データを磁気ディスクから読み込む間に現れるエラーの頻度。
251	FB	Minimum Spares Remaining
252	FC	Newly Added Bad Flash Block
254	FE	Free Fall Protection