二面偏波式干渉法
二面偏波式干渉法 （にめんへんぱしきかんしょうほう、英 : Dual-polarization interferometry 、DPI ）は、レーザー光 のエバネッセント波 を利用して、導波路 （英語版 ） コンフォメーション変化 を測定するために使用される（コンフォメーション活性相関 （英語版 ）
DPIは[ 1] 干渉パターン が形成される。DPI技術は、レーザーの偏光 を回転させて、導波路の2つの偏光モードを交互に励起するものである。両方の偏光の干渉パターン（インターフェログラム）を測定することで、屈折率 （RI）と吸着層の厚さの両方を算出することができる。偏光を高速で切り替えることができるので、流動系中でチップ表面 で起こる化学反応 をリアルタイムで測定できる。これらの測定値は、分子サイズ（層の厚さから）と折りたたみ密度（RIから）の変化に応じて、発生する分子相互作用に関するコンフォメーション情報を推測するために用いられる。DPIは通常、反応速度 、親和性 、熱力学 の測定と同時に、あらゆるコンフォメーション変化を定量化することにより、生化学 的な相互作用の特性を明らかにするために使用される[要出典 。
この手法は、0.01 nmの寸法分解能で定量的かつリアルタイム（10 Hz）である[ 2]
2008年、二面偏波式干渉法の新しい応用として、導波路を通過する光の強度が結晶成長の存在下で消滅するものが登場した。これにより、タンパク質の結晶核生成の最も初期の段階を観察できるようになった[ 3] 複屈折 薄膜の秩序や秩序の乱れを定量化する機能も備えている[ 4] 脂質二重層 の形成や膜タンパク質 との相互作用を研究するために用いられている[ 5] [ 6]
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