對於由極性分子 形成的介電質,假設施加外電場於這種介電質,則會出現取向極化 現象。
在電磁學 裏,介電質 響應外電場 的施加而電極化 的衡量,稱為電容率 。在非真空中由於介電質被電極化,在物質內部的總電場會減小。電容率關係到介電質傳輸(或容許)電場的能力。電容率衡量電場怎樣影響介電質,怎樣被介電質影響。電容率又稱為「絕對電容率」。
在國際單位制 中,電容率的測量單位是法拉 每公尺 (F/m)。真空 的電容率,稱為真空電容率 ,或「真空介電常數」,標記為
ε ε -->
0
{\displaystyle \varepsilon _{0}}
。
ε ε -->
0
{\displaystyle \varepsilon _{0}}
≈8.854187817…×10⁻¹² F/m 。
概念
電位移
D
{\displaystyle \mathbf {D} }
的定義式為
D
=
def
ε ε -->
0
E
+
P
{\displaystyle \mathbf {D} \ {\stackrel {\text{def}}{=}}\ \varepsilon _{0}\mathbf {E} +\mathbf {P} }
;
其中,
E
{\displaystyle \mathbf {E} }
是電場,
P
{\displaystyle \mathbf {P} }
是電極化強度 。
對於均向性 的、線性 的、均勻介電質,電極化強度
P
{\displaystyle \mathbf {P} }
與電場
E
{\displaystyle \mathbf {E} }
成正比:
P
=
χ χ -->
e
ε ε -->
0
E
{\displaystyle \mathbf {P} =\chi _{\text{e}}\varepsilon _{0}\mathbf {E} }
;
其中,
χ χ -->
e
{\displaystyle \chi _{\text{e}}}
是電極化率
所以,電位移與電場的關係方程式為
D
=
ε ε -->
E
{\displaystyle \mathbf {D} =\varepsilon \mathbf {E} }
;
其中,
ε ε -->
{\displaystyle \varepsilon }
是電容率。
假若,介電質是異向性 的,則電容率是一個二階張量 ,可用矩陣來表示。
一般而言,電容率不是常數 ,可以隨著在介電質內的位置而改變,隨著電場的頻率 、溼度 、溫度 或其它參數而改變。對於一個非線性介電質,電容率有可能會隨著電場強度而改變。當電容率是頻率 的函數時,它的數值有可能是實數,也有可能是複數 。
真空電容率
真空電容率
ε ε -->
0
{\displaystyle \varepsilon _{0}}
的意義是電位移
D
0
{\displaystyle D_{0}}
與電場
E
0
{\displaystyle E_{0}}
在真空 裏的比值,其值的定義式如下:
ε ε -->
0
=
def
1
c
2
μ μ -->
0
=
1
35950207149.4727056
π π -->
{\displaystyle \varepsilon _{0}\ {\stackrel {\text{def}}{=}}\ {\frac {1}{{c}^{2}\mu _{0}}}={\frac {1}{35950207149.4727056\pi }}}
F /m
≈ ≈ -->
8.854187817...
× × -->
10
− − -->
12
{\displaystyle \approx 8.854187817...\times 10^{-12}}
F /m
其中,
c
{\displaystyle c}
是光波 在真空中的光速 [ 1] ,
μ μ -->
0
{\displaystyle \mu _{0}}
是真空磁導率 。其中,真空磁導率的定義值為
μ μ -->
0
=
4
π π -->
× × -->
10
− − -->
7
{\displaystyle \mu _{0}=4\pi \times 10^{-7}}
T ·m /A 。
在國際單位制 裡,常數
c
{\displaystyle c}
和
μ μ -->
0
{\displaystyle \mu _{0}}
都是準確值(參閱NIST (页面存档备份 ,存于互联网档案馆 ))。所以,關於公尺或安培 這些物理量單位的數值設定,不能採用定義方式,而必須設計精密的實驗來測量計算求得。由於
π π -->
{\displaystyle \pi }
是個無理數 ,
ε ε -->
0
{\displaystyle \varepsilon _{0}}
的數值只能夠以近似值來表示。
真空電容率
ε ε -->
0
{\displaystyle \varepsilon _{0}}
也出現於庫侖定律 ,是庫侖常數
k
=
1
4
π π -->
ε ε -->
0
{\displaystyle k={\frac {1}{4\pi \varepsilon _{0}}}}
的一部份。所以,庫侖常數
k
{\displaystyle k}
也是一個準確值。
對於線性介質,電容率與真空電容率的比率,稱為相對電容率
ε ε -->
r
{\displaystyle \varepsilon _{\text{r}}}
:
ε ε -->
r
=
ε ε -->
ε ε -->
0
{\displaystyle \varepsilon _{\text{r}}={\frac {\varepsilon }{\varepsilon _{0}}}}
請注意,這公式只有在靜止的、零頻率的狀況才成立。
對於各向異性 材料,相對電容率是個張量 ;對於各向同性 材料,相對電容率是個標量 。
介質的電容率
對於常見的案例,均向性介質,
D
{\displaystyle \mathbf {D} }
和
E
{\displaystyle \mathbf {E} }
是平行的向量,電容率
ε ε -->
{\displaystyle \varepsilon }
是會造成雙折射 的二階張量 。介質的電容率和磁導率
μ μ -->
{\displaystyle \mu }
,共同地決定了,電磁波 通過介質時的相速度
v
p
{\displaystyle v_{\text{p}}}
:
ε ε -->
μ μ -->
=
1
v
p
2
{\displaystyle \varepsilon \mu ={\frac {1}{v_{\text{p}}^{2}}}}
對於線性介電質,電極化強度
P
{\displaystyle \mathbf {P} }
與電場
E
{\displaystyle \mathbf {E} }
成正比:
P
=
χ χ -->
e
ε ε -->
0
E
{\displaystyle \mathbf {P} =\chi _{\text{e}}\varepsilon _{0}\mathbf {E} }
將這方程式代入電位移的定義式,可以得到電位移與電場的關係式:
D
=
(
1
+
χ χ -->
e
)
ε ε -->
0
E
{\displaystyle \mathbf {D} =(1+\chi _{\text{e}})\varepsilon _{0}\mathbf {E} }
所以,電容率與電極化率的關係式為
ε ε -->
=
(
1
+
χ χ -->
e
)
ε ε -->
0
{\displaystyle \varepsilon =(1+\chi _{\text{e}})\varepsilon _{0}}
複值電容率
涵蓋寬廣頻域的介電質的電容率頻譜。
ε ε -->
′
{\displaystyle \varepsilon '}
和
ε ε -->
″
{\displaystyle \varepsilon ''}
分別標記電容率的實值部份和虛值部份。圖內標示了幾種電極化機制:離子導電、取向極化、原子極化、電子極化[ 2] 。
一般物質對於含時外電場的響應,跟真空的響應大不相同。一般物質的響應,通常跟外電場的頻率有關。這屬性反映出一個事實,那就是,由於物質具有質量,物質的電極化響應無法瞬時的跟上外電場。響應總是必需合乎因果關係,這需求可以以相位 差來表達。因此,電容率時常以複函數來表達(複數允許同步的設定大小值和相位),而這複函數的參數為外電場頻率
ω ω -->
{\displaystyle \omega }
:
ε ε -->
→ → -->
ε ε -->
^ ^ -->
(
ω ω -->
)
{\displaystyle \varepsilon \rightarrow {\widehat {\varepsilon }}(\omega )}
。這樣,電容率的關係式為
D
0
e
− − -->
i
ω ω -->
t
=
ε ε -->
^ ^ -->
(
ω ω -->
)
E
0
e
− − -->
i
ω ω -->
t
{\displaystyle D_{0}\mathrm {e} ^{-\mathrm {i} \omega t}={\widehat {\varepsilon }}(\omega )E_{0}\mathrm {e} ^{-\mathrm {i} \omega t}}
其中,
D
0
{\displaystyle D_{0}}
和
E
0
{\displaystyle E_{0}}
分別是電位移和電場的振幅。
請注意,時間相關性項目的正負號選擇(指數函數的指數的正負號),決定了電容率虛值部份的正負號常規。在這裏採用的正負號慣用於物理學 ;在工程學 裏,必須逆反所有虛值部份的正負號。
一個介電質對於靜電場的響應,是由電容率的低頻率極限來描述,又稱為「靜電容率」
ε ε -->
s
{\displaystyle \varepsilon _{\text{s}}}
:
ε ε -->
s
=
lim
ω ω -->
→ → -->
0
ε ε -->
^ ^ -->
(
ω ω -->
)
{\displaystyle \varepsilon _{\text{s}}=\lim _{\omega \rightarrow 0}{\widehat {\varepsilon }}(\omega )}
在高頻率極限,複電容率一般標記為
ε ε -->
∞ ∞ -->
{\displaystyle \varepsilon _{\infty }}
。當頻率等於或超過電漿頻率 (plasma frequency )時,介電質的物理行為近似理想金屬,可以用自由電子模型 來計算。對於低頻率交流電場,靜電容率是個很好的近似。隨著頻率的增高,可測量到的相位差
δ δ -->
{\displaystyle \delta }
開始出現於
D
{\displaystyle \mathbf {D} }
和
E
{\displaystyle \mathbf {E} }
之間。出現時候的頻率跟溫度、介質種類有關。在中等的電場強度
E
0
{\displaystyle E_{0}}
狀況,
D
{\displaystyle \mathbf {D} }
和
E
{\displaystyle \mathbf {E} }
保持成正比:
ε ε -->
^ ^ -->
=
D
0
E
0
e
i
δ δ -->
=
|
ε ε -->
|
e
i
δ δ -->
{\displaystyle {\widehat {\varepsilon }}={\frac {D_{0}}{E_{0}}}\mathrm {e} ^{\mathrm {i} \delta }=|\varepsilon |\mathrm {e} ^{\mathrm {i} \delta }}
由於介質對於交流電場的響應特徵是複電容率,為了更詳細的分析其物理性質,很自然地,必須分離其實數和虛值部份,通常寫為:
ε ε -->
^ ^ -->
(
ω ω -->
)
=
ε ε -->
′
(
ω ω -->
)
− − -->
i
ε ε -->
″
(
ω ω -->
)
=
D
0
E
0
(
cos
-->
δ δ -->
− − -->
i
sin
-->
δ δ -->
)
{\displaystyle {\widehat {\varepsilon }}(\omega )=\varepsilon '(\omega )-\mathrm {i} \varepsilon ''(\omega )={\frac {D_{0}}{E_{0}}}\left(\cos \delta -\mathrm {i} \sin \delta \right)}
其中,虛值部份
ε ε -->
″
{\displaystyle \varepsilon ''}
關係到能量的耗散,而實值部份
ε ε -->
′
{\displaystyle \varepsilon '}
則關係到能量的儲存。
由於複電容率是一個發生於多重頻率的色散 現象的疊加 ,其描述必須能夠兼顧到這些色散現象。因此,複電容率通常會是一個相當複雜的、參數為頻率的函數,稱為「介電函數」。電容率
ε ε -->
^ ^ -->
{\displaystyle {\widehat {\varepsilon }}}
的極點 必須匹配虛值部份為正值的頻率,因此滿足克拉莫-克若尼關係式 。但是,在一般作業的狹窄頻率值域內,電容率可以近似為跟頻率無關,或者以適當的模型函數為近似。
物質分類
依據電容率和電導率
σ σ -->
{\displaystyle \sigma }
,物質可以大致分為三類:導體 、介電質、其它一般介質。高損耗物質會抑制電磁波的傳播。通常,這些物質的
σ σ -->
ω ω -->
ε ε -->
≫ ≫ -->
1
{\displaystyle {\frac {\sigma }{\omega \varepsilon }}\gg 1}
,可以被視為優良導體。無損耗或低損耗物質,
σ σ -->
ω ω -->
ε ε -->
≪ ≪ -->
1
{\displaystyle {\frac {\sigma }{\omega \varepsilon }}\ll 1}
,可以被視為介電質。其它不包括在這兩種限制內的物質,被分類為一般介質。完美介電質是電導率等於0的物質,通常只允許有小量的位移電流 存在。這種物質儲存和歸還電能的性質就好像理想電容器 一樣。
高損耗介質
對於高損耗介質案例,當傳導 電流 不能被忽略時,總電流密度
J
tot
{\displaystyle J_{\text{tot}}}
是
J
tot
=
J
c
+
J
d
=
σ σ -->
E
− − -->
i
ω ω -->
ε ε -->
E
=
− − -->
i
ω ω -->
ε ε -->
^ ^ -->
E
{\displaystyle J_{\text{tot}}=J_{\text{c}}+J_{\text{d}}=\sigma E-\mathrm {i} \omega \varepsilon E=-\mathrm {i} \omega {\widehat {\varepsilon }}E}
其中,
J
c
{\displaystyle J_{c}}
是傳導電流密度 ,
J
d
{\displaystyle J_{d}}
是位移電流密度,
σ σ -->
{\displaystyle \sigma }
是介質的電導率,
ε ε -->
{\displaystyle \varepsilon }
是介質電容率的實值部分,
ε ε -->
^ ^ -->
{\displaystyle {\widehat {\varepsilon }}}
是介質的複電容率。
位移電流跟外電場
E
{\displaystyle E}
的頻率
ω ω -->
{\displaystyle \omega }
有關。假若外電場是個靜電場,則位移電流等於0。
採用這形式論,複電容率定義為
ε ε -->
^ ^ -->
=
ε ε -->
− − -->
i
σ σ -->
ω ω -->
{\displaystyle {\widehat {\varepsilon }}=\varepsilon -\mathrm {i} {\frac {\sigma }{\omega }}}
通常,介電質對於電磁能量有幾種不同的吸收機制 。受到這幾種吸收機制的影響,隨著頻率的改變,電容率函數的樣子也會有所改變(例:壓電材料)。
弛豫 (relaxation )效應發生於永久偶極分子和感應偶極分子。當頻率較低的時候,電場的變化很慢。這允許偶極子足夠的時間,對於任意時候的電場,都能夠達成平衡狀態。假若,因為介質的黏滞性 ,偶極子無法跟上頻率較高的電場,電場能量就會被吸收,由而導致能量耗散。偶極子的這種弛豫機制稱為介電質弛豫 (dielectric relaxation )。理想偶極子的弛豫機制可以用經典的德拜弛豫 (Debye relaxation )來描述。
共振 效應是由原子、離子、電子等等的旋轉或振動產生的。在它們特徵吸收頻率的附近,可以觀察到這些程序。
上述兩種效應時常會合併起來,使得電容器產生非線性效應。例如,當一個充電很久的電容器被短暫地放電時,它無法完全放電的效應稱為「介電質吸收」。一個理想電容器,經過放電後,電壓 應該是0 伏特 。但是,實際的電容器會餘留一些電壓,稱為「殘餘電壓」。有些介電質,像各種不同的聚合物薄膜 ,殘餘電壓小於原本電壓的1~2%。但是,電解電容器 (electrolytic capacitor )或超高電容器 (supercapacitor )的殘餘電壓可能會高達15~25%。
量子詮釋
在量子力學 裏,電容率可以用發生於原子層次和分子層次的量子 作用來解釋。
在較低頻率區域,極性介電質的分子會被外電場電極化 ,因而誘發出周期性轉動。例如,在微波 頻率區域,微波場促使物質內的水分子做週期性轉動。水分子與周邊分子的相互碰撞產生了熱能,使得含水分物質的溫度增高。這就是為什麼微波爐 可以很有效率地將含有水分的物質加熱。水的電容率的虛值部分(吸收指數)有兩個最大值,一個位於微波頻率區域,另一個位於遠紫外線 (UV)頻率區域。這兩個共振頻率都高於微波爐的操作頻率。
在中間頻率區域,高過促使轉動的頻率區域,又遠低於能夠直接影響電子運動的頻率區域,能量是以共振的分子振動形式被吸收。對於水介質,這是吸收指數開始顯著地下降的區域。吸收指數的最低值是在藍光頻率區域(可見光 譜段)。這就是為什麼日光不會傷害像眼睛一類的含水生物組織[ 3] 。
在高頻率區域(像遠紫外線頻率或更高頻率),分子無法弛豫。這時,能量完全地被原子吸收,因而激發電子,使電子躍遷至更高能級,甚至游離 出原子。擁有這頻率的電磁波會導致游離輻射 。
雖然,從開始到最後,對於物質的介電行為,做一個完全的計算機模擬,是一個可行之計。但是,這方法還沒有得到廣泛的使用。替代地,科學家接受現象模型為一個足以勝任的方法,可以用來捕捉實驗行為。德拜弛豫 和德拜–勞侖茲模型 (Lorentz model )都是很優秀的模型。
測量
物質的電容率可以用幾種靜電 測量方法來得到。使用各種各樣的介電質光譜學 (dielectric spectroscopy )方法,在廣泛頻率 值域內,任何頻率的複電容率都可以正確地評估出來。這頻率值域覆蓋接近21個數量級 的大小值,從10−6 到1015 赫茲 [ 4] [ 5] 。另外,使用低溫恒溫器 (cryostat )和烤爐,科學家可以測量出,在不同的溫度狀況下,物質的介電性質。
橢圓偏振技術 可以用在紅外線 頻段和可見光 頻段。
也有一些方法用于介电常数的测量。介电常数在微波 的范围可以由共振 方法测量[ 6] 。
參閱
參考文獻
^ 國際標準組織NIST 和BIPM 現在通常的做法,是根據ISO 31 的規則,標記光波在真空的光速為
c
0
{\displaystyle c_{0}}
。在原先的1983年建議裏,符號
c
{\displaystyle c}
被用於這用途。參閱NIST Special Publication 330 , Appendix 2, p. 45 (页面存档备份 ,存于互联网档案馆 )
^ Agilent Basics of Measuring the Dielectric Prop[erties of Materials (PDF) . Agilent Technologies Inc. (原始内容 (PDF) 存档于2013-09-26).
^ Braun, Charles L.; Smirnov, Sergei N., Why is water blue? , Journal of Chemical Education, 1993, 70 (8): 612 [2009-05-14 ] , (原始内容 存档于2012-04-03)
^ Linfeng Chen, V. V. Varadan, C. K. Ong, Chye Poh Neo. Microwave theory and techniques for materials characterization. Microwave electronics . Wiley. 2004: 37 [2009-05-14 ] . ISBN 0470844922 . (原始内容存档 于2014-01-01).
^ Mailadil T. Sebastian. Dielectric Materials for Wireless Communication . Elsevier. 2008: 19 [2009-05-14 ] . ISBN 0080453309 . (原始内容存档 于2014-01-01).
^ Costa, Filippo; et al. Waveguide dielectric permittivity measurement technique based on resonant FSS filters. IEEE Microwave and Wireless Components Letters. 2011, 21 (5): 273––275. doi:10.1109/LMWC.2011.2122303 .
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