У цьому методі дифракційна картина виникає внаслідок просвічування нерухомого монокристала поліхроматичним рентгенівським випромінюванням. Метод дозволяє швидко і наочно встановити сингонію та орієнтацію кристала, але, порівняно з монохроматичними методами, виявився незручним для дослідження структури через складну форму спектра випромінювання рентгенівських трубок. Пізніше метод стали успішно застосовувати на синхротронному випромінюванні, де інтенсивність слабко змінюється в широкому діапазоні довжин хвиль, а монохроматизація недоцільна, оскільки веде до втрати більшості енергії. За розподілом інтенсивності у плямі можна робити висновки про ступінь досконалості кристала і визначати його дефекти: блоковість, мозаїчність, присутність внутрішньої деформації тощо[1].
Отриману дифракційну картину називають лауеграмою.
