PROFILPELAJAR.COM

Ма́ршевый тест (англ. March test) — тест ячеек оперативной памяти (ОЗУ), имеющий линейную зависимость сложности от ёмкости запоминающего устройства^[1]^[2].

Описание

Маршевый тест состоит из конечного числа маршевых элементов. При этом каждый маршевый элемент определяется через порядок формирования адресной последовательности и порядок операций чтения и записи^[1]^[3].

Формирование адресной последовательности может быть^[1]^[3]:

Последовательный по возрастанию (↑);
Последовательный по убыванию (↓);
Последовательный по возрастанию или убыванию (↑↓);

Операции чтения и записи рассматриваются из следующих:

«r0» (англ. read) — чтение ячейки памяти с ожидаемым значением 0;
«r1» — чтение ячейки памяти с ожидаемым значением 1;
«w0» (англ. write) — запись в ячейку памяти значения 0;
«w1» — запись в ячейку памяти значения 1.

Описываемых операций для каждой из ячеек может быть несколько.

Например, маршевый тест MATS (Modified Algorithmic Test Sequence) описывается следующим образом: {↑↓(w0); ↑(r0, w1); ↓(r1)}. Этот тест имеет три маршевых элемента и сложность O(4N). Первый элемент «↑↓(w0)» рассматривается как фаза инициализации и устанавливает начальное значение ячейки памяти. Она может использоваться как при переходе к новым проверяемым ячейкам, так и изначально путём записи во все ячейки ОЗУ. Вторая фаза «↑(r0, w1)» представляет собой перебор всех ячеек по возрастанию, во время которого происходит чтение и проверка 0, и далее запись 1. Третий элемент «↓(r1)» используется в последующем перебором всех ячеек с чтением и проверкой 1^[4]^[5].

Набор элементов маршевого теста (как элементы, так и их последовательность) определяет его покрывающую способность и эффективность обнаружения отказов^[4].

Особенности

Маршевые тесты имеют приемлемую покрывающую способность неисправностей ОЗУ и простоту реализации, что важно для встроенных средств самотестирования (англ. Built-In Self-Test, BIST)^[1]^[6].

Классические маршевые тесты

Считаются классическими следующие маршевые тесты^[7]^[2]:

Список классических маршевых тестов
№	Название теста	Сложность теста	Описание
1	Scan	4N	{↑↓(w0); ↑↓(r0); ↑↓(w1); ↑↓(r1)}
2	MATS	4N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1); ↓(r1)}
3	MATS+	5N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1); ↓(r1, w0)}
4	MATS++	6N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1); ↓(r1, w0, r0)}
5	Marching 1/0	14N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1); ↓(r1, w0, r0); ↑↓(w1); ↑(r1, w0, r0); ↓(r0, w1, r1)}
6	March X	6N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1); ↓(r1, w0); ↑↓(r0)}
7	March Y	8N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1); ↓(r1, w0, r0); ↑↓(r0)}
8	March C	11N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1); ↑(r1, w0); ↑↓ (r0); ↓(r0, w1); ↓(r1, w0); ↑↓(r0)}
9	March C-	10N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1); ↑(r1, w0); ↓(r0, w1); ↓(r1, w0); ↑↓(r0)}
10	March A	15N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, w0, w1); ↑(r1, w0, w1); ↓(r1, w0, w1, w0); ↓(r0, w1, w0)}
11	March B	17N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1, w0, r0, w1); ↑(r1, w0, w1); ↓(r1, w0, w1, w0); ↓(r0, w1, w0)}
12	Algorithm B	17N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, w0, w1); ↑(r1, w0, r0, w1); ↓(r1, w0, w1, w0); ↓(r0, w1, r1, w0)}
13	March C-R	15N	{↑↓(w0); ↑(r0, r0, w1); ↑(r1, r1, w0); ↓(r0, r0, w1); ↓(r1, r1, w0); ↑↓(r0, r0)}
14	PMOVI	13N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1); ↑(r1, w0, r0); ↓(r0, w1, r1); ↓(r1, w0, r0)}
15	PMOVI-R	17N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1, r1); ↑(r1, w0, r0, r0); ↓(r0, w1, r1, r1); ↓(r1, w0, r0, r0)}
16	March G	23N+2D	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1, w0, r0, w1); ↑(r1, w0, w1); ↓(r1, w0, w1, w0); ↓(r0, w1, w0); D; ↑↓(r0, w1, r1); D; ↑↓(r1, w0, r0)}
17	March U	13N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1, w0); ↑(r0, w1); ↓(r1, w0, r0, w1); ↓(r1, w0)}
18	March UD	13N+2D	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1, w0); D; ↑(r0, w1); D; ↓(r1, w0, r0, w1); ↓(r1, w0)}
19	March U-R	15N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1, r1, w0); ↑(r0, w1); ↓(r1, w0, r0, r0, w1); ↓(r1, w0)}
20	March LR	14N	{↑↓(w0); ↓(r0, w1); ↑(r1, w0, r0, w1); ↑(r1, w0); ↑(r0, w1, r1, w0); ↓(r0)}
21	March LA	22N	{↑↓(w0); ↓(r0, w1, w0, w1, r1); ↑(r1, w0, w1, w0, r0); ↓(r0, w1, w0, w1, r1); ↓(r1, w0, w1, w0, r01); ↓(r0)}
22	March M	16N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1, w0); ↑↓(r0); ↑(r0, w1); ↑↓(r1); ↓(r1, w0, r0, w1); ↑↓(r1); ↓(r1, w0)}
23	March PS	23N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1, w0, r0, w1); ↑(r1, w0, r0, w1, r1); ↑(r1, w0, r0, w1, r1, w0); ↑(r0, w1, r1, w0, r0)}
24	March PNPSFk	18N	{↑↓(w0); ↑(r0, w1, r1, w0); ↓(r0, w1); ↑(r1, w0, r0, w1); ↑(r1, w0); ↑(r0, w1); ↓(r1, w0, r0)}
25	Cheng test	17N	{↑↓(w0); ↑(w1, r1, w0); ↑(r0, w1); ↑(r1, w0, r0, w1); ↑(r1, w0); ↓(r1, w0); ↓(r0, w1); ↓(r1, w0); ↑↓(r0)}

Рассматриваемые маршевые тесты имеют разную способность к обнаружению отказов^[8]^[9]^[2]:

Таблица обнаруживающей способности маршевых тестов
№	Название теста	Сложность теста	SA	TF	CFin	CFid	TF-CF	CFid-CFid	CFin-CFin	CFid-CFin
1	MATS	4N	+	-	-	-	-	-	-	-
2	MATS+	5N	+	-	-	-	-	-	-	-
3	MATS++	6N	+	+	-	-	-	-	-	-
4	Marching 1/0	14N	+	+	+	-	+	-	-	-
5	March X	6N	+	+	+	-	-	-	-	-
6	March Y	8N	+	+	+	-	+	-	-	-
7	March C	11N	+	+	+	+	-	-	+	-
8	March C-	10N	+	+	+	+	-	-	+	-
9	March A	15N	+	+	+	+	-	+	-	-
10	March B	17N	+	+	+	+	+	+	-	-
11	Algorithm B	17N	+	+	+	+	+	+	-	-

В таблице^[10]:

SA (англ. stack-at) — константный отказ;
TF (англ. transition faults) — переходные отказы, когда ячейка не может перейти в одно из состояний 1 или 0;
СF (англ. coupling fault) — отказы взаимного влияния; когда состояние ячейки с одним адресом влияет на состояние ячейки с другим адресом;
CFin (англ. inversing coupling fault) — инверсное взаимное влияние; например, если изменение в 1 одной ячейке приводит к 0 в другой ячейке;
CFid (англ. indepotent coupling fault) — при изменении одной ячейки происходит принудительная установка определённого значения в другой ячейке.

Примечания

↑ ¹ ² ³ ⁴ Ярмолик, 2009, с. 25.
↑ ¹ ² ³ Ad.J. van de Goor, A. Offerman, I. Schanstra. Towards a uniform notation for memory tests // Proceedings ED TC European Design and Test Conference. — 1996. — Март. — С. 420–427. — doi:10.1109/EDTC.1996.494335. Архивировано 16 июня 2018 года.
↑ ¹ ² Ярмолик, 2019, с. 60.
↑ ¹ ² Ярмолик, 2009, с. 26.
↑ Ярмолик, 2019, с. 60—61.
↑ Ярмолик, 2019, с. 59.
↑ Ярмолик, 2019, с. 61—62.
↑ Ярмолик, 2019, с. 63.
↑ Goor, 1991.
↑ Ярмолик, 2019, с. 27—28.

Литература

Ярмолик С. В., Занкович А. П., Иванюк А. А. Маршевые тесты для самотестирования ОЗУ. — Издательский центр БГУ, 2009. — 271 с. — ISBN 9789854767079.
Ярмолик С. В. Контроль и диагностика вычислительных систем. — Бестпринт, 2019. — 387 с. — ISBN 9789859050954.
A.J. van de Goor. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice. — Wiley. — 1991. — 512 с. — ISBN 978-0-471-92586-6.

[_fe3e88d5b7a4508c-1] ¹ ² ³ ⁴ Ярмолик, 2009, с. 25.

[:0-2] ¹ ² ³ Ad.J. van de Goor, A. Offerman, I. Schanstra. Towards a uniform notation for memory tests // Proceedings ED TC European Design and Test Conference. — 1996. — Март. — С. 420–427. — doi:10.1109/EDTC.1996.494335. Архивировано 16 июня 2018 года.

[_7e3a90b8833e0e8a-3] ¹ ² Ярмолик, 2019, с. 60.

[_fe3e88d5b7a4508f-4] ¹ ² Ярмолик, 2009, с. 26.

[_d0037292e11dbffb-5] Ярмолик, 2019, с. 60—61.

[_7e3a8fb8833e0d3e-6] Ярмолик, 2019, с. 59.

[_b1001204ea976113-7] Ярмолик, 2019, с. 61—62.

[_7e3a90b8833e0e89-8] Ярмолик, 2019, с. 63.

[_56328e3526a4cdda-9] Goor, 1991.

[_b3e7db174369153f-10] Ярмолик, 2019, с. 27—28.

[1]

[2]

[3]

[4]

[5]

[6]

[7]

[8]

[9]

[10]

PROFILPELAJAR.COM

Маршевый тест

Содержание

Описание

Особенности

Классические маршевые тесты

Примечания

Литература

Read other articles:

Naogaon District

Matthias Holst

Adeline Ames

Coppa d'Asia

Rawle Alkins

Lyrebird

Hard clam

Operation Commando Eagle

Real estate economics

Grade II* listed buildings in Rhondda Cynon Taf

Donnie Moore

الشاب بلال

GeoJSON

Lóegaire Búadach

ハンギングバスケット

Portugals historia

1641 en France

塞薩洛尼卡之圍 (1422年—1430年)

Benevento

The Miser