Røntgenfluorescens

En Philips PW1606 spektrometer for røntgenfluorescens, med automatisert prøvemating, i laboratoriet ved en sementfabrikk

Røntgenfluorescens, engelsk: X-ray fluorescence (XRF), er utslippet av karakteristiske sekundære (eller fluorescerende) røntgenstråler fra et materiale som har vært utsatt for bombardering med røntgenstråler eller gammastråler med høy energi. Fenomenet er mye brukt innen elementale– og kjemiske analyser, spesielt i undersøkelser av metaller, glass, keramikk og byggematerialer, og for forskning innen geokjemi, rettsmedisin og arkeologi.

Røntgenfluorescensanalyse

Røntgenfluorescensanalyse er en kjemisk analysemetode som brukes til nøyaktig bestemmelse av den kjemiske sammensetningen av blant annet metaller, legeringer, mineraler, bergarter, jordprøver og kunstig fremstilte materialer.[1] Grunnstoffer i råolje kan også bestemmes direkte. Til dette kan man anvende en røntgenfluorescensspektrograf. Metoden går ut på at prøven som skal undersøkes bestråles med røntgenstråling og bestemmes ut fra den fluorenscenstrålingen som den sender ut. Fluorenscenstrålingen har bølgelengder som er karakteristiske for de grunnstoffene som prøven består av.[2]

Referanser

  1. ^ [1]Verifisert leksikonartikkel om "røntgenfluorescensspektrograf" Gyldendals Store Danske
  2. ^ Smith-Meyer, Trond (2004) "Aschehoug og Gyldendals Store Norske Ettbindsleksikon" Aschehoug og Gyldendal ISBN 978-82-573-1495-8